參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.靜態(tài)工作點(diǎn)測(cè)試：VGS（-5V至+5V）、IDQ（0.1mA-50mA）,、VDS（0-30V）

2.電壓增益測(cè)量：頻率1kHz時(shí)Av（20dB-60dB）,，THD＜1%

3.頻率響應(yīng)分析：-3dB帶寬（10Hz-100MHz），相位裕度＞45

4.輸入/輸出阻抗：Zin（1kΩ-10MΩ@1MHz）,，Zout（50Ω-1kΩ@1MHz）

5.噪聲系數(shù)測(cè)試：NF≤3dB@1GHz,，等效輸入噪聲電壓＜5nV/√Hz

檢測(cè)范圍

1.硅基MOSFET共源放大器模塊

2.GaAsHEMT高頻放大電路組件

3.射頻前端低噪聲放大器(LNA)

4.功率放大器驅(qū)動(dòng)級(jí)電路板

5.混合集成電路中的放大單元

檢測(cè)方法

GB/T4587-2022《半導(dǎo)體分立器件測(cè)試方法》第4.3節(jié)放大特性測(cè)試

IEC60122-2:2020《石英晶體元件參數(shù)測(cè)量》高頻段測(cè)試規(guī)范

ASTMF1246-21《晶體管交流參數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程》

SJ/T11498-2015《微波半導(dǎo)體器件測(cè)試方法》

ISO17025:2017《檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力通用要求》電氣參數(shù)測(cè)量章節(jié)

檢測(cè)設(shè)備

1.KeysightB1505A功率器件分析儀：支持DC-3GHz動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

2.Rohde&SchwarzZNB40矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：10MHz-40GHzS參數(shù)測(cè)量

3.TektronixMDO3104混合域示波器：250MHz帶寬波形分析

4.Keithley2636B雙通道源表：納安級(jí)漏電流測(cè)量

5.AgilentN9020A信號(hào)分析儀：9kHz-26.5GHz頻譜特性測(cè)試

6.Chroma33621A電源負(fù)載系統(tǒng)：多通道供電模擬

7.Fluke8588A參考級(jí)萬(wàn)用表：8.5位分辨率直流參數(shù)測(cè)量

8.NoiseKenLAB-EC01噪聲系數(shù)測(cè)試儀：0.1-18GHz噪聲分析

9.ESPECPL-3KPH溫度試驗(yàn)箱：-70℃~+180℃溫漂測(cè)試

10.OmicronBode100頻響分析儀：10Hz-40MHz相位裕度測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)